|
|
|
| 美國W.S.Tyler,haver動態(tài)顆粒圖像分析儀,適合長條狀材料,檢測精度可達到45毫米,適于分析粒徑為36微米
到45毫米的顆粒物,樣品可被排成直線狀進樣,可進行在線分析,測量速度快,進樣器自動清洗,LED燈光源,100米長數(shù)據線,美國W.S.Tyler,可用于沙子,煤炭,糖,鹽,塑料,飼料,陶瓷,玻璃,食品,藥品, 技術參數(shù),
|
|
| 版權所有:上海仁器儀器儀表有限公司 工信部備案號：滬ICP備12033815號-1 公安備案號：32111102000064 |
